分析 | 東レテクノ株式会社
分析

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No.2302

段ボールから発生する硫黄化合物で金属が腐食する?-硫黄化合物の高感度分析-

段ボール、硫黄化合物、金属、腐食、電子機器、精密機器、硫化水素、故障、変質、不具合、アウトガス、硫化物、導電性、GC-FPD、硫化カルボニル、硫化メチル、メチルメルカプタン、二硫化ジメチル、GC
No.2301

電子デバイスの絶縁不良・腐食は硫黄が原因?

電子デバイス、絶縁不良、腐食、硫黄、ゴム、加硫剤、ガス、短絡、接触不良、S8、溶媒抽出、LC、クロマトグラム、自動車、LC/UV、脱着溶媒、吸着剤、精密機器、半導体、GC、GC-FPD
No.2206

LIB電極原料の晶析特性測定

LIB、溶解度、炭酸リチウム、ICP-OES、有機溶媒、極性、水溶液
No.2202

滴定を用いた有機化合物の構造変化解析

滴定、有機化合物、官能基、酸化、構造変化解析、酸価、酸性、中和、アルカリ性、水酸基、アルデヒド、カルボキシ基、水酸基価、けん化価、アミン価、エポキシ当量、ヨウ素価、官能基量、油脂、脂肪酸、NH2、OH、不飽和
No.2113

アルデヒド類の発生にお困りではありませんか?~ホルムアルデヒド、アセトアルデヒドの定量~

アルデヒド、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、サンプリング、接着剤、部品、内装材、建材、アミン、カルボン酸、塗料、防腐剤、ポリマー、発がん性物質、腐食、ガス、捕集、抽出、誘導体、悪臭防止法、作業環境測定、管理濃度、指針値
No.2111

チタンによる分析妨害-銅の微量検出技術-

チタン、分析妨害、銅、微量検出、光触媒、合金、塗料、合成樹脂、干渉、妨害、ICP、ICP-OES、ICP-MS、FL-AAS、誘導結合プラズマ、発光分光分析法、質量分析法、フレームレス原子吸光法、Cu、Ti、四重極型、検出器、ピーク、ベースライン、バックグラウンド、検出下限